C测试仪HIOKI 3506
品牌：日本日置HIOKI
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产品描述
C测试仪HIOKI 3506测量频率1kHz, 1MHz；对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试
日置HIOKI 3506 C测试仪技术参数：
| 测量参数 | C（电容）,D（损耗系数tanδ）, Q (1/tan δ) |
| 测量范围 | C:0.000fF ～ 15.0000mF D: 0.00001 ～ 1.99999 Q:0.0 ～ 19999.9 |
| 基本确度 | （代表值）C: ±0.14% rdg. D: ±0.0013 ※测定确度= 基本确度× B× C× D× E, B～Eは各系数 |
| 测量频率 | 3505: 1kHz, 100kHz, 1MHz, 3506: 1kHz, 1MHz |
| 测量信号电平 | 500mV, 1V rms |
| 输出电阻 | 1Ω (在2.2mF以上的测量范围: 1kHz;在 22nF以上的测量范围: 100kHzs), 20Ω 上述测量范围以外) |
| 显示 | LED(6位显示,满量程由点数有效距离来决定) |
| 测量时间 | 代表值: 2.0 ms （FAST） ※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同 |
| 机能 | BIN 分选测量功能, 触发同步测量, 设定测量条件保存功能, 比较器测量功能,平均机能, Low-C抵抗机能, 震动机能,电流检测功能,输入电压检测机能,EXT I/O输入/输出, RS-232C接口, GP-IBイ接口 |
| 电源 | AC 100/120/220/240V ±10%（可选择）, 50/60Hz, 最大40VA |
| 体积及重量 | 260W × 100H × 298Dmm, 4.8kg |
| 附件 | 电源线× 1, 电源备用保险丝× 1 |
C测试仪3506性能：
- 反复测量精度更高，最适合生产线
- 校正维修功能，减低由环境的温度变化影响
- 3506C测试仪测量导线的过长引起的阻抗变化，阻抗补正功能
- 比测仪的设定值和测定值的同步显示
- 2ms的高速测量；1kHz,1MHz 测量
- HIOKI 3506电容测试仪根据BIN的测定区分容量
- 比测仪和触发器同步输出功能
输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件
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