阻抗分析仪IM3570
阻抗分析仪IM3570精度±0.08%，日本日置HIOKI IM3570阻抗分析仪实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查，阻抗分析仪HIOKI IM3570低阻抗高精度模式：10Ω，IM3570阻抗分析仪适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量

LCR测试仪HIOKI 3522-50
LCR测试仪HIOKI 3522-50可选配9518-01 GP-IB接口、9593-01 RS-232C 接口，日置HIOKI 3522-50 LCR测试仪主要测量电容、电阻、电感，LCR测试仪3522-50使用宽广量程的测试频率及直流来测量阻抗，HIOKI3522-50LCR测试仪也称为电桥测试仪

LCR测试仪HIOKI 3532-50
LCR测试仪HIOKI 3532-50是测量电容、电阻、电感，日置HIOKI 3532-50 LCR测试仪搭配宽幅测试频率的阻抗测试仪，LCR测试仪3532-50测试频率可在42Hz～5MHz宽广频率量程内以4位精确度自由调整，HIOKI3532-50 LCR测试仪价格优惠

C测试仪HIOKI 3504-40
C测试仪HIOKI 3504-40有比侧仪功能/触发输出功能，日置HIOKI 3504-40 C测试仪查出全机测量中的接触错误，提高成品率，C测试仪3504-40高速测量2ms电容测试仪，HIOKI3504-40电容测试仪能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断

C测试仪HIOKI 3504-50
C测试仪HIOKI 3504-50有GP-IB接口，日置HIOKI 3504-50 C测试仪用BIN的分选接口进行被测物体的测试，C测试仪3504-50高速测量2ms电容测试仪，HIOKI3504-50电容测试仪比侧仪功能/触发输出功能

C测试仪HIOKI 3504-60
C测试仪HIOKI 3504-60用BIN的分选接口进行被测物体的测试，日置HIOKI 3504-60 C测试仪有恒定电压模式测量，C测试仪3504-60，HIOKI3504-60电容测试仪4端子控制检测功能有GP-IB接口

C测试仪HIOKI 3506
C测试仪HIOKI 3506比测仪的设定值和测定值的同步显示，日置HIOKI 3506 C测试仪测量频率1kHz, 1MHz，C测试仪3506比测仪和触发器同步输出功能，HIOKI 3506电容测试仪根据BIN的测定区分容量

C测试仪HIOKI 3505
C测试仪HIOKI 3505比测仪的设定值和测定值的同步显示，日置HIOKI 3505 C测试仪测量频率1kHz, 100kHz, 1MHz，C测试仪3505高精度电容测试仪，HIOKI 3505电容测试仪2ms的高速测量

LCR测试仪HIOKI 3511-50
LCR测试仪HIOKI 3511-50可配9143针型探头，日置HIOKI 3511-50 LCR测试仪精度±0.08%，LCR测试仪3511-50是5ms快速测量LCR测试仪，HIOKI 3511-50LCR测试仪带内置比较器

LCR测试仪HIOKI 3535
LCR测试仪HIOKI 3535采样率100kHz～120MHz，日置HIOKI 3535 LCR测试仪6ms/采样高速LCR测试仪，LCR测试仪3535可选择拆卸式前置放大器，HIOKI3535LCR测试仪测量时需要选择前置放大器单元和测试冶具或探头

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