微量分析天平XS205DU # Sale Price: ¥0元

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微量分析天平XS205DU

微量分析天平XS205DU


品牌:瑞士梅特勒METTLER TOLEDO

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产品描述

微量分析天平XS205DU可读性0.01/0.1mg,最大称量值81/220g;

梅特勒-托利多 XS205DU分析天平 技术参数

量程 双量程
可读性 0.01/0.1mg
最大称量值 81/220g
最大称量值重复性(s) 0.1mg
10g重复性(s) 0.02mg
线性 ±0.2mg
1/2最大称量1)四角误差 0.3mg
灵敏度漂移 0.0004%
灵敏度温度漂移2) 0.00015%/℃
灵敏度稳定性3) 0.0002%/a
典型称量时间4) 6s
接口更新速率 23/s
防风罩有效高度(mm) 235
秤盘尺寸(mm) 78×73
天平外形尺寸(W×D×H)(mm) 263×453×322

    梅特勒-托利多XS205DU电子天平展示世界领先的称量性能、无与伦比的符合人体工学的操作体验及先进的数据管理解决方案。它们完全遵循行业法规的要求,确保更高的生产效率并使操作更安全。

XS205DU微量分析天平 功能特点

  • 采用高精度、高分辨率后置式传感器,获得准确称量结果
  • 全自动校准技术(FACT) - 温度漂移触发的天平自动内校,内置两组砝码实现线性误差校准,确保称量结果的准确性
  • 变量程专利设计(DeltaRange)和双量程(DualRange)设计,满足客户对不同样品的称量需求
  • 革命性的网格称量盘(SmartGrid)、悬浮在称量室中的后挂称量设计,获得快速、稳定的称量结果
  • 易巧称量组件(ErgoClips),方便客户使用不同去皮容器进行称量
  • 触摸屏技术(Touch screen),方便天平称量菜单和参数设置
  • 可移动的显示控制终端,方便天平使用
  • 完全可拆卸的防风罩设计,实现天平的快速清洁
  • 内置RS232通讯接口,方便连接打印机、电脑等外围设备
  • 优化天平适应性的称量参数设置,满足不同称量环境要求
  • 具有简单称量、统计称量、公式称量、密度测定等内置应用程序
  • e-Loader II软件,实现更便捷的天平软件更新


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微量分析天平XS205DU全自动校准技术,内置两组砝码实现线性误差校准,梅特勒-托利多XS205DU分析天平双量程81/220g,可读性0.01/0.1mg;XS205DU电子天平采用高精度、高分辨率后置式传感器,获得准确称量结果;XS205DU微量分析天平具有简单称量、统计称量、公式称量、密度测定等内置应用程序;

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